English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(393)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(71)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

LabVIEW в USB-лаборатории

LabVIEW — графическая среда разработки для технических приложений. Программы в ней создаются не в виде текстовых модулей, а в виде привычных для каждого инженера «электрических» схем. Только по проводам на этих схемах вместо электрических сигналов передаются программные данные, а вместо электроприборов — функции программы. Вообще, высокий уровень абстракции — традиция драйверов приборов для LabVIEW. Новый комплект разработчика для ACK-3106 также претерпел изменения в этом направлении: в его базовой библиотеке (обычная динамическая библиотека Windows, не связанная с особенностями LabVIEW) появились функции, полностью осуществляющие наиболее общие операции работы с прибором.

Автор(ы):  Афонский А.А. / Суханов Е.В.
Номер журнала:  КИПиС 2005 № 6
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии