English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(462)
Новости Anritsu(100)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(535)
Новости Metrel(10)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(421)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(112)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар «Тестирование параметров материалов и полупроводниковых приборов с помощью программных и аппаратных решений Keysight Technologies, Cascade Microtech, Maury Microwave»

В конце мая 2015 г. компания Keysight Technologies, совместно с компаниями Cascade Microtech и Maury Microwave, провела в Москве двухдневный семинар, посвященный тестированию параметров материалов и полупроводниковых устройств. Keysight является одним из лидеров в этом направлении и практически единственной компанией, готовой представить широчайший ассортимент решений для данной отрасли промышленности.

Номер журнала:  КИПиС 2015 № 4

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 3 Июнь 2018
КИПиС 2018 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений