English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(473)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(67)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

X-параметры: новый принцип измерений, моделирования и разработки нелинейных ВЧ и СВЧ компонентов

Уже более 40 лет S-параметры (от англ. Scattering — рассеяние) были важнейшим элементом микроволновой теории и являлись основными измерениями характеристик СВЧ и ВЧ устройств.

S-параметры могут быть измерены на высоких частотах с помощью векторного анализатора цепей (VNA). Калиброванные измерения S-параметров позволяют определить собственные характеристики тестируемого устройства (ТУ) не зависимо от системы анализатора цепей, на которой проводились измерения. S-параметры также популярны для определения характеристик нелинейных устройств, таких как усилители и транзисторы. При этом зачастую забывается или пренебрегается тем, что S-параметры точно описывают характеристики нелинейных устройств только при воздействии сигналами низкого уровня, относительно которых поведение тестируемого устройства может быть приближено к линейным компонентам при фиксированном значении постоянного тока или статической рабочей точке.

В настоящее время появилась необходимость в появлении точного, практически реализуемого метода для моделирования и разработки нелинейных компонент на высоких частотах. Революция в области коммуникаций непреклонно заставляет активные устройства соответствовать все более жестким требованиям работы. Х-параметры являются наиболее точной и расширенной версией S-параметров, и подходят для линейных и нелинейных компонентов в условиях работы с сигналами как низкого, так и высокого уровня. Они сокращаются до S-параметров в пределах сигналов низкого уровня. Однако, в отличие от S-параметров, Х-параметры содержат детализированную и полезную информацию, включающую амплитуду и фазу искажений, которые возникают при работе с сигналами высокого уровня.

Х-параметры позволяют реализовать иерархическую методику разработки каскадов нелинейных устройств, зная Х-параметры отдельных компонентов. Х-параметры могут быть применены везде, где используются S-параметры для активных и нелинейных устройств, давая при этом существенные преимущества.

Подробнее о Х-параметрах читайте в PDF-версии статьи по ссылке ниже.


Номер журнала:  КИПиС 2009 № 2
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ