English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(392)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

National Instruments реализует возможности тестеров цифровых микросхем в PXI

Компания National Instruments, разработчик систем на основе платформы, позволяющих инженерам и ученым решать сложнейшие инженерные задачи, анонсировала прибор для работы с векторными цифровыми последовательностями NI PXIe-6570 Digital Pattern Instrument и редактор векторных последовательностей NI Digital Pattern Editor. Эти продукты освобождают производителей радиочастотных интегральных схем (RFIC), интегральных схем управления питанием, микроэлектромеханических систем (MEMS) и цифро-аналоговых интегральных схем от закрытых архитектур традиционных тестеров микросхем.

Номер журнала:  КИПиС 2016 № 5

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
18.12.1890
Родился американский радиоинженер и изобретатель
18.12.1856
День рождения