English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(515)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(593)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(491)
Новости Tektronix(199)
Новости Texas Instruments(19)
Новости Yokogawa(90)
Новости Росстандарта(135)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Системы параллельного тестирования надежности кристаллов на пластине (WLR) с модулями источника-измерителя сигнала (SMU)

Системы испытания надежности кристаллов на пластине (WLR) используются на производстве уже в течение многих десятилетий, и различаются по измерительным возможностям и архитектуре. Специализированные системы WLR могут использовать высокочастотный переменный ток или импульсные сигналы. Тем не менее, для тестирования большинства полупроводниковых устройств применяются приборы постоянного тока, такие как источник-измеритель SMU, которые формируют необходимое напряжение и способны осуществлять измерения и сбор данных о параметрах.

Автор(ы):  Джейк Харнак (Jake Harnack)
Номер журнала:  КИПиС 2016 № 6

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2019
КИПиС 2019 № 6
Тема номера:
Новинки измерительной техники
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
29.01.1926
Родился пакистанский физик-теоретик, лауреат Нобелевской премии по физике 1979 года