English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(431)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(513)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(248)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(390)
Новости Tektronix(182)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Передовые измерительные технологии для прикладных задач. Семинар Keysight Technologies

12 октября 2016 г. компания Keysight Technologies провела вторую часть цикла семинаров «Основы измерений», на этот раз темы докладов были посвящены измерительным технологиям для прикладных задач. Для удобства участников в рамках семинара одновременно проводилось 5 параллельных секций, в рамках которых были представлены 14 тем. Каждый участник мог выбрать сам, какие именно темы представляют для него наибольший интерес, и в течение дня мог посетить только интересующие его модули программы.

Номер журнала:  КИПиС 2016 № 6

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.11.1904
Родился французский физик