English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(530)
Новости Anritsu(113)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(609)
Новости Metrel(19)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(77)
Новости Rohde & Schwarz(513)
Новости Tektronix(206)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(102)
Новости Росстандарта(138)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Да здравствует, День метрологии!

20 мая 2010 г. метрологи всего мира отмечают 135 годовщину подписания Метрической конвенции — первого межправительственного соглашения о научно-техническом сотрудничестве, заложившего фундамент единого международного метрологического пространства.

Статья приурочена к Всемирному Дню Метрологии и рассказывает о некоторых интересных фактах касательно определения базовых метрических величин.


Автор(ы):  Брянский Л.Н.
Номер журнала:  КИПиС 2010 № 2
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 3 Июнь 2020
КИПиС 2020 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала