English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(393)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(71)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Навстречу 200-летию

В этом году исполнилось 135 лет со дня подписания Метрической Конвенции 20 мая, известный всем ныне как Всемирный День Метрологии, а 12 октября исполняется 55 лет Международной Организации законодательной метрологии (МОЗМ), т.е. через 5 лет они могут совместно отпраздновать 200-летие своей деятельности на стезе метрологии.

В статье рассказывается об истории создания этих метрологических организаций, а также истории их взаимоотношений и попыток объединения.


Автор(ы):  Исаев Л.К.
Номер журнала:  КИПиС 2010 № 3
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии