English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(393)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(71)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

XII международная конференция компании National Instruments «NIDays-2013»

28-29 ноября 2013 года в Конгресс-центре МТУСИ прошла двенадцатая международная научно-практическая конференция «NIDays-2013», на которую зарегистрировались более 700 руководителей предприятий, инженеров, профессоров, преподавателей и студентов из более чем 50 городов России, Казахстана, Армении, Грузии, Латвии, Молдовы, Украины и Белоруссии. На секциях конференции, посвященных радиотехнике и электронике, стендовым испытаниям и многоканальным системам сбора данных, промышленным системам мониторинга и АСУ ТП, лабораторным практикумам и учебным стендам, автоматизации научного эксперимента было представлено более 150 докладов.

Номер журнала:  КИПиС 2014 № 1
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии