English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(500)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(575)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(73)
Новости Rohde & Schwarz(478)
Новости Tektronix(197)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(134)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Тестирование матрицы лазерных диодов для трехмерных сканеров при помощи источников-измерителей 2602B или 2606B и графического сэмплирующего мультиметра DMM7510

Потребность в измерении расстояния и скорости в трёхмерном пространстве стала насущной необходимостью во многих приложениях – от автономного вождения в автомобильной промышленности, дополненной реальности в играх и бытовых приборах до интерфейсов оператора и роботизированных устройств в промышленной автоматике. Данная статья расскажет, как, без особого труда, объединить настольные приборы в единую систему и достичь лучшей в отрасли синхронизации запуска и максимальной пропускной способности в любой автоматизированной производственной среде.

Номер журнала:  КИПиС 2019 № 4
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
24.09.1501
день рождения