English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(474)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Прибор компании Keithley 4200-SCS - финалист конкурса «Test of Time 2010»

Прибор компании Keithley 4200-SCS - финалист конкурса «Test of Time 2010»

01.02.2010

По мнению производителя, модель Keithley 4200-SCS пользуется стабильно растущей популярностью с момента ее производства в 2000 году. Эта популярность была завоевана благодаря удобному и интуитивно-понятному интерфейсу прямого доступа (point-and-click interface), встроенному персональному компьютеру для анализа результатов испытаний, высокой точности, при нижнем уровне измерения до 0,1 фА (1Е-16А). Уже самая первая конфигурация прибора предоставила решение «все в одном» для определения характеристик полупроводниковых приборов по постоянному току и их испытаний на надежность в предельных режимах.

Дальнейшая модернизация расширила как стандартный набор функций, так и набор дополнительных опций (включая аппаратную поддержку C-V-измерителей и генераторов импульсов). Keithley добавили эти функции в 4200-SCS таким образом, чтобы не принуждать пользователей к отказу от существующего оборудования и замене его на более новое (и более дорогое) оборудование. Компания сообщает, что эта политика рентабельной модернизации значительно расширила область применения 4200-SCS. Теперь, области применения включают в себя технологию моделирования полупроводников, анализ входного сигнала, анализ неисправностей, тестирование надежности и долговечности прибора, испытания для исследований в области микроэлектроники и нанотехнологий, определение характеристик диэлектриков, тестирование флэш-памяти, импульсное тестирование полупроводниковых устройств, тестирование эффекта Холла, моделирование устройства и определение характеристик солнечных батарей.

Другие финалисты конкурса на сайте журнала “T&MWorld”:

http://www.tmworld.com/article/441499-Test_of_Time_Finalists_2010.php



Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ