English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(431)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(513)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(248)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(390)
Новости Tektronix(181)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Прибор компании Keithley 4200-SCS - финалист конкурса «Test of Time 2010»

Прибор компании Keithley 4200-SCS - финалист конкурса «Test of Time 2010»

01.02.2010

По мнению производителя, модель Keithley 4200-SCS пользуется стабильно растущей популярностью с момента ее производства в 2000 году. Эта популярность была завоевана благодаря удобному и интуитивно-понятному интерфейсу прямого доступа (point-and-click interface), встроенному персональному компьютеру для анализа результатов испытаний, высокой точности, при нижнем уровне измерения до 0,1 фА (1Е-16А). Уже самая первая конфигурация прибора предоставила решение «все в одном» для определения характеристик полупроводниковых приборов по постоянному току и их испытаний на надежность в предельных режимах.

Дальнейшая модернизация расширила как стандартный набор функций, так и набор дополнительных опций (включая аппаратную поддержку C-V-измерителей и генераторов импульсов). Keithley добавили эти функции в 4200-SCS таким образом, чтобы не принуждать пользователей к отказу от существующего оборудования и замене его на более новое (и более дорогое) оборудование. Компания сообщает, что эта политика рентабельной модернизации значительно расширила область применения 4200-SCS. Теперь, области применения включают в себя технологию моделирования полупроводников, анализ входного сигнала, анализ неисправностей, тестирование надежности и долговечности прибора, испытания для исследований в области микроэлектроники и нанотехнологий, определение характеристик диэлектриков, тестирование флэш-памяти, импульсное тестирование полупроводниковых устройств, тестирование эффекта Холла, моделирование устройства и определение характеристик солнечных батарей.

Другие финалисты конкурса на сайте журнала “T&MWorld”:

http://www.tmworld.com/article/441499-Test_of_Time_Finalists_2010.php



Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений