English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(535)
Новости Anritsu(115)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(617)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(85)
Новости Rohde & Schwarz(520)
Новости Tektronix(209)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(105)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

ГЭТ 111-85 Государственный специальный эталон единиц бикомплексной проницаемости в диапазоне частот 0,2 - 1,0 ГГц

Об Энциклопедии измерений
Поиск:  

Государственный специальный эталон единиц бикомплексной проницаемости в диапазоне частот 0,2 - 1,0 ГГц утвержден Постановлением Госстандарта от 17.10.1985 г. № 118. В основу эталона положен принцип сравнения бикомплексной проницаемости расчетных отрезков линии передачи с воздушным заполнением с отрезками того же диаметра, заполненными исследуемым материалом.

Состав эталона:

  • комплект эталонных двухполюсников;
  • комплект эталонных четырехполюсников;
  • компаратор для воспроизведения бикомплексной проницаемости и передачи ее размера вторичным эталонам и образцовым средствам измерений 1-го разряда.

Метрологические характеристики:

Диапазон измерений

действительная часть (относительные диэлектрическая и магнитная проницаемости) 1-10

мнимая часть (тангенсы угла диэлектрических и магнитных потерь) 1·10-4-1

СКО результата измерений

действительная часть 1·10-4

мнимая часть 2·10-2-1·10-1

НСП

действительная часть 2·10-4

мнимая часть 5·10-2-2·10-1

Назначение и область применения:

  • калибровка приборов, используемых для измерения электромагнитных параметров радиоматериалов;
  • контроль параметров при технологическом процессе разработки и изготовлении композиционных материалов;
  • калибровка аппаратуры контроля параметров подложек микросхем для электроники;
  • калибровка аппаратуры контроля влажности материалов диэлектрическими методами.

Институт – хранитель ГСЭ ФГУП "СНИИМ".


Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 4 Август 2020
КИПиС 2020 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
21.09.1801
Родился немецкий и русский физик, академик
Конвертер единиц измерения