English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(530)
Новости Anritsu(113)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(609)
Новости Metrel(20)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(77)
Новости Rohde & Schwarz(513)
Новости Tektronix(206)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(102)
Новости Росстандарта(138)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

ГЭТ 129-80 Государственный специальный эталон единицы относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 1-200 МГц

Об Энциклопедии измерений
Поиск:  

Государственный специальный эталон единицы относительной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 1-200 МГц утвержден Постановлением Госстандарта СССР от 18.12.1980г. № 159. В основу эталона расчетная мера диэлектрической проницаемости, заполненная воздухом. Размер единицы передается рабочему эталону и стандартным образцам при помощи компаратора.

Состав эталона:

- мера диэлектрической проницаемости;
- компаратор типа КДПР.

Метрологические характеристики:

Номинальное значение            1,0006

СКО результата измерений      3·10-4

НСП                                        5·10-4

Назначение и область применения:

-Поверка и калибровка приборов, используемых для измерения электромагнитных параметров материалов.

- Контроль параметров при технологическом процессе разработки и изготовлении диэлектрических материалов.

- Определение диэлектрических свойств материалов.

- Сертификация приборов и материалов по электромагнитным параметрам.

- Исследование материалов и внесение параметров диэлектрических свойств в банк данных Государственной службы стандартных справочных данных.

- Калибровка аппаратуры контроля параметров подложек микросхем для электроники.

- Калибровка аппаратуры контроля влажности материалов диэлектрическими методами.

Институт – хранитель ГСЭ ФГУП "СНИИМ".


Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 3 Июнь 2020
КИПиС 2020 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.07.1904
День рождения одного из первых отечественных лауреатов Нобелевской премии
Конвертер единиц измерения