English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(535)
Новости Anritsu(115)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(617)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(85)
Новости Rohde & Schwarz(520)
Новости Tektronix(209)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(105)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

ГЭТ 168-2005 Государственный специальный эталон единицы поверхностной плотности покрытий

Об Энциклопедии измерений
Поиск:  

Государственный специальный эталон единицы поверхностной плотности покрытий утвержден Приказом Ростехрегулирования от 04.05.2005 г. № 601. В основу работы госэталона положены два радиационных метода: рентгенофлуоресцентный и обратнорассеянного бета - излучения.

Состав эталона:

- рентгеновский преобразователь и два бета-преобразователя с источниками ионизирующего излучения;
- рабочие эталоны 1-го разряда поверхностной плотности в виде наборов металлических пленок в диапазоне 0,010-1,000 кг/м2 и относительной погрешностью ±(0,2-0,3) %;
- ПЭВМ на базе процессора типа "Pentium-2" с программным обеспечением.

Метрологические характеристики:

НЗД:

1 - 1000 г/м2

СПВ:

0,5·10-2

НСП:

0,3·10-2

Назначение и область применения:

С помощью стандартных образцов поверхностной плотности покрытий, аттестованных на ГЭТ 168-2005, методом прямых измерений осуществляется передача размера единицы толщиномерам покрытий, используемым в различных областях науки и техники:
- электронная промышленность;
- металлургия;
- химическая промышленность.

Институт – хранитель ГПСЭ ФГУП "УНИИМ".


Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 4 Август 2020
КИПиС 2020 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
21.09.1801
Родился немецкий и русский физик, академик
Конвертер единиц измерения