 |
 |
|
 |
| EN |
|
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
Информация
|
Новости компаний
24.05.2010 | 2851
Весной 2010 года компания Kamstrup, мировой лидер по производству приборов учета тепла, приступила к реализации концептуальной программы по улучшению сервисного обслуживания в регионах России. Она включает в себя расширение географии официальных сервисных центров с одновременным повышением квалификации местных специалистов. Сертификат, подтверждающий право авторизованного обслуживания, поверки и калибровки приборов учета MULTICAL® 601 c ультразвуковыми расходомерами ULTRAFLOW® 54 получили 15 специалистов в 8 городах.
21.05.2010 | 2714
Компания Agilent Technologies Inc. (NYSE: A) объявила о выходе обновленного CD-диска для преподавателей ВУЗов Educator’s Corner CD-ROM (версия 8.0). CD-диск содержит материалы по более чем 100 темам, включая основы радиоизмерений (например, модуляция, фильтрация, сдвиг фаз, искажения, усиление и многое другое). Преподаватели смогут загрузить лабораторные задания и эксперименты, которые можно видоизменить в соответствии с конкретным учебным планом. Кроме того, записанными на CD лабораторными упражнениями могут воспользоваться студенты старших курсов.
20.05.2010 | 3754
Новый тестер изоляции АКТАКОМ AM-2125 — это программируемый портативный прибор для испытания сопротивления изоляции электрооборудования до 1,2 ТОм тестовым напряжением до 5000 В (DC), измерения токов утечки, напряжения и температуры. Возможности прибора существенно расширяет наличие встроенного регистратора и возможность подключения к ПК для обработки результатов измерений.
19.05.2010 | 3286
Компания Keithley Instruments представляет Модель 3732 – матричную плату высокой плотности на герконовых реле. Плата имеет 448 однополюсных матричных узла и предназначена для измерительных систем с автоматизированными переключениями и исследований требующих подключения нескольких приборов, высокую плотность узлов матрицы и высокую скорость.
14.05.2010 | 2708
Компания National Instruments объявила о планах проведения NIWeek, самой известной в мире конференции по системам графического проектирования и выставке, которая ежегодно собирает более 3300 инженеров, ученых и представителей научного сообщества со всех уголков земного шара. 16-я конференция NIWeek 2010 открывается 3 августа в Austin Convention Center в г. Остин (штат Техас, США). В течение 3-х дней будут проводиться технические саммиты, сессии и презентации, интерактивные демонстрации и выступления руководителей NI. Участники NIWeek 2010 смогут повысить свои технические знания, узнать о применении систем графической разработки приложений для задач тестирования и измерений, а также пообщаться с коллегами и разработчиками компании National Instruments.
12.05.2010 | 2664
Десять новых моделей семейства осциллографов Infiniium 90000 серии X обладают верхней границей полосы пропускания от 16 до 32 ГГц и допускают ее дальнейшее расширение. Революционные технологии позволили получить самый низкий в отрасли уровень собственных шумов и самый малый джиттер, что обеспечивает превосходную точность измерений.
11.05.2010 | 3170
Компания Tektronix, ведущий производитель оборудования и решений для тестирования, измерений и мониторинга, объявила о завершении сделки по приобретению компании SyntheSys Research (www.bertscope.com). Подробности транзакции не разглашаются.
10.05.2010 | 2682
Семинар «Измерение параметров материалов» состоится 20 мая 2010 г. в Москве в деловом центре «Кимберли-Лэнд». В ходе семинара будут рассмотрены методы исследования диэлектрических и магнитных свойств материалов на базе анализатора цепей с прикладным программным обеспечением 85071E.
08.05.2010 | 3013
Во вторник, 11 мая 2010 года, компания Tektronix проведет короткий онлайн-семинар, посвященный измерению мощности и анализу полученных данных: «How to make efficient (SMPS) Power Measurements - Green Electronics».
07.05.2010 | 3097
Компания Rohde & Schwarz производит широкий диапазон приборов для тестирования вещательного оборудования. Новая опция R&S®SFE-K30 для R&S®SFE добавляет симулятор затухания сигнала, позволяющий моделировать реалистичные условия передачи сигнала.
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
27.04.1993
|
