Agilent Technologies, Cascade Microtech и Maury Microwaves приглашают на семинар по тестированию полупроводниковых устройств

18.06.2013

Компании Agilent Technologies, Cascade Microtech и Maury Microwaves приглашают Вас принять участие в 2х-дневном бесплатном семинаре «Комплексное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току и в СВЧ-диапазонах с помощью измерительного оборудования Agilent Technologies, зондовых станций Cascade Microtech и импедансных тюнеров Maury Microwave», который пройдет в Москве 26 и 27 июня 2013 г. В семинаре примет участие директор департамента параметрического тестирования компании Agilent Masaki Yamamoto.

Для успешной разработки современных микроэлектронных устройств требуется качественное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току, а также в СВЧ- и миллиметровом диапазоне, которое в большинстве случаев выполняется на полупроводниковых пластинах. Компания Agilent Technologies совместно с компанией Cascade Microtech и Maury Microwave предлагают функционально законченные решения, которые включают в себя параметрические анализаторы, анализаторы цепей и САПР компании Agilent Technologies, зондовые станции компании Cascade Microtech и импедансные тюнеры компании Maury Microwave.

Во многих крупных организациях и исследовательских институтах России уже на протяжении многих лет успешно используются параметрические анализаторы Agilent B1500A и B1505A, которые под управлением графической среды пользователя Agilent EasyExpert становятся мощным центром для проведения измерений вольт-амперных (ВАХ) и вольт-фарадных (ВФХ) характеристик в непрерывном или импульсном режиме. Многие подобные измерения проводятся на полупроводниковых пластинах.

В ассортименте компании также есть серия экономичных источников/измерителей Agilent B2900A для тестирования полупроводниковых приборов в диапазоне до 210В и 3А (10А в импульсном режиме). Недавно компания расширила эту серию и представила революционно новое поколение источников/измерителей Agilent B2960A, которые обеспечивают лучшее в своем классе разрешение, широкий диапазон выходных биполярных сигналов, а также исключительно низкий уровень фазовых шумов, что важно при разработке ГУН, АЦП/ЦАП и т.д.

Для измерений в области и СВЧ-/миллиметрового диапазона, в частности, измерения S-параметров в непрерывном или импульсном режиме, коэффициента шума, компрессии коэффициента усиления, интермодуляционных и гармонических искажений, а также анализа цепей в нелинейном режиме и измерения X-параметров и многих других измерений, Agilent предлагает уникальный по своим возможностям векторный анализатор цепей серии Agilent PNA-X с частотным диапазоном до 67 ГГц.

Для тестирования полупроводниковых приборов с импедансом, отличным от 50 Ом, измерения параметров шума, анализа цепей в нелинейном режиме, импульсных IV измерений и задач типа «load pull», компания Maury Microwaves предлагает импедансные тюнеры с ручным или автоматическим управлением, программное обеспечение «active load pull» для Agilent PNA-X (без использования механических импедансных тюнеров), а также специальное решение от Maury Microwaves, которое позволяет проводить синхронизированные импульсные IV/RF измерения.

Цель семинара: познакомить слушателей с новыми решениями Agilent Technologies, Cascade Microtech и Maury Microwave в области тестирования полупроводниковых устройств.

Для участия в семинаре необходимо зарегистрироваться. Пройти регистрацию и посмотреть программу семинара можно на сайте Agilent Technologies, перейдя по ссылке.

Agilent Technologies

О компании: Keysight Technologies