English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(492)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(571)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(470)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(132)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Семейство миниатюрных пассивных пробников Agilent Technologies

Семейство миниатюрных пассивных пробников Agilent Technologies

17.08.2009

Компания Agilent Technologies Inc. (NYSE: A) представила семейство миниатюрных пассивных осциллографических пробников и аксессуаров с полосой пропускания от постоянного тока до 1.5 ГГц. Компактные 2.5-мм наконечники, низкая входная емкость и различные принадлежности превращают серию пассивных пробников Agilent N2870A в идеальный инструмент для работы с плотно расположенными компонентами интегральных схем или устройствами с поверхностным монтажом в современных высокоскоростных цифровых приложениях.

Острый наконечник пробника снабжен пружиной, что предотвращает соскальзывание пробника c тестируемого устройства. Изолирующие колпачки позволяют отцентрировать наконечник пробника по выводу микросхемы и не допустить замыкания с соседними выводами.

Пробники серии N2870A выпускаются с коэффициентами деления 1:1, 10:1, 20:1 и 100:1 и полосой пропускания от постоянного тока до 35 МГц, 200 МГц, 350 МГц, 500 МГц и 1.5 ГГц. Новые осциллографы серии Infiniium 9000 Series поставляются с одним пассивным пробником N2873A 500 МГц, 10:1 на канал.


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений