English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(474)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(258)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания National Instruments представляет новый комплект модулей PXI для тестирования полупроводниковых устройств

Компания National Instruments представляет новый комплект модулей PXI для тестирования полупроводниковых устройств

25.11.2009

National Instruments представила 10 новых модульных приборов PXI, которые являются основой системы тестирования полупроводниковых устройств NI PXI Semiconductor Suite. Комплект новых программируемых приборов, оптимизированных для использования со средой графической разработки LabVIEW, включает в себя четыре высокоскоростных прибора ввода/вывода цифровых сигналов, два цифровых переключателя, два модернизированных прибора для ВЧ-измерений, высокоточный измеритель/источник питания, а также специализированное ПО для импорта векторных файлов. Приборы, входящие в состав NI PXI Semiconductor Suite, позволяют: ввод/вывод цифровых сигналов с полосой 200 МГц, измерения тока с точностью до 10 пА, высокоскоростные ВЧ-измерения, переключение цифровых сигналов и сигналов постоянного тока, а также импорт файлов WGL и STIL-формата (IEEE 1450) в LabVIEW.

Комплект тестирования полупроводниковых чипов на базе PXI обладает улучшенными возможностями для тестирования стандартных полупроводниковых устройств, например АЦП, ЦАП, микросхем управления питанием, устройств беспроводного доступа и микроэлектромеханических компонентов (MEMS). За счет наличия широких функциональных возможностей, комплект позволяет в кратчайшие сроки разработать систему тестирования, обладающую высокой пропускной способностью, непревзойденной гибкостью, по сравнению с традиционным измерительным оборудованием и автоматизированными станциями тестирования, часто используемыми для снятия характеристик, проверки и промышленного тестирования полупроводниковых устройств.

Семейство приборов высокоскоростного цифрового ввода/вывода NI PXIe-654x включает в себя четыре новых модуля с тактовыми частотами до 200 МГц и частотами передачи данных до 400 Мб/с, что позволяет специалистам тестировать высокоскоростные микросхемы и быстродействующие протоколы связи. Некоторые цифровые модули в этом семействе включают в себя такие дополнительные возможности как двунаправленная линия передачи данных, побитовое сравнение в реальном времени, возможность передачи данных с удвоенной скоростью (DDR), формирование временных задержек для различных цифровых линий ввода/вывода, выбор более 22 различных уровней напряжения, от 1.2 до 3.3 В, для увеличения гибкости ввода/вывода цифровых данных. Новые устройства цифрового ввода/вывода позволили дополнить спектр высокоскоростных модулей NI PXI-654x, PXI-655x and PXI-656x до 10 приборов PXI с несимметричными и LVDS (дифференциальными) линиями частотой до 200 МГц.

Новый высокоточный измеритель/источник питания NI PXI – 4132 обладает чувствительностью по току до 10 пА, позволяя проводить высокоточные измерения тока. Он позволяет измерять токи и напряжения по четырехпроводной схеме и имеет внешнюю изоляцию выхода для обеспечения выходных сигналов амплитудой до ±100 В на одном слоте PXI. Измеритель/источник питания также обладает другими возможностями, такими как встроенный генератор последовательностей для высокоскоростного построения графиков, переключение и синхронизация нескольких измерителей/источников питания PXI-4132 через заднюю панель шасси PXI. PXI-4132 дополняет широко используемый в настоящее время модуль NI PXI-4130, обеспечивающий выходную мощность 40 Вт (±20 В, ±2 А) и обладающий высокой точностью и широким диапазоном измерений.

Цифровые переключатели NI PXI-2515 и NI PXIe-2515 позволяют специалистам подключать высокоточное измерительное оборудование постоянного тока к высокоскоростным линиям цифрового ввода/вывода, подключенные к тестируемой микросхеме. Новые переключатели также обеспечивают качественное подключение при проведении параметрических измерений, и в тоже время поддерживают целостность сигналов на высокоскоростных цифровых фронтах.

Векторный анализатор и генератор сигналов NI PXIe-5663E и NI PXIe-5673E с полосой 6.6 ГГц обладают увеличенной скоростью тестирования за счет использования нового режима RF List Mode и позволяют значительно снизить время тестирования. Новый уровень функциональности позволяет специалистам загрузить набор предварительно сконфигурированных параметров измерительного прибора, и быстро менять их в цикле, снижая общее время тестирования. Такие возможности особенно необходимы при тестировании усилителей мощности и многих ВЧ-микросхем, для которых требуется снятие частотно–зависимых характеристик. Усовершенствованная ВЧ-платформа позволяет производить ВЧ-измерения в различных полосах гораздо быстрее по сравнению с традиционным измерительным оборудованием.

Комплект тестирования полупроводниковых устройств PXI теперь позволяет эффективно импортировать вектора цифровых данных в форматах WGL и STIL, интегрируя воедино процессы разработки и тестирования при использовании высокоскоростных цифровых модулей PXI. Результатом сотрудничества NI и Test Systems Strategies, Inc. стал выпуск нового программного обеспечения TSSI TD-Scan, позволяющего импортировать тестовые вектора в форматах WGL и STIL в LabVIEW. Ранее, для решения этой задачи потребовалось бы разработка или доработка используемого программного обеспечения. Оценочная версия программного инструмента WGL/STIL, обладающего поддержкой всех NI PXI-654x, PXI-655x и PXI-656x HSDIO серий оборудования доступна на www.ni.com. Полную версию вы можете заказать непосредственно в компании TSSI.

Посетите www.ni.com/automatedtest/semiconductor/suite.htm чтобы узнать больше о комплекте для тестирования полупроводниковых устройств, и о том, как компания Analog Devices применяет LabVIEW совместно с PXI, снижая тем самым время тестирования своих микросхем.


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
23.10.1844
Родился один из изобретателей радио, французский физик и инженер