English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(492)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(571)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(471)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(132)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Agilent Technologies объявила о завершении сделки по приобретению линейки радиочастотных приборов Keithley Instruments

Agilent Technologies объявила о завершении сделки по приобретению линейки радиочастотных приборов Keithley Instruments

15.12.2009

Компании Agilent Technologies Inc. (NYSE: A) и Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEI) объявили о том, что сделка по приобретению компанией Agilent Technologies существенной части линейки радиочастотных приборов Keithley завершена. Как было объявлено ранее компанией Keithley, стороны подписали окончательное соглашение о продаже 19 ноября 2009.

“Это приобретение – удачная сделка для Agilent,” заявил Рон Нерсесян, президент департамента Электронных измерений компании Agilent. “Мы уверены, что талантливая команда разработчиков и линейка РЧ приборов, выпускаемая ранее Keithley, станут хорошим дополнением для Agilent, что еще в большей степени укрепит позиции нашей компании в сфере РЧ измерений. Мы будем рады предложить нашим клиентам еще более широкий ассортимент РЧ приборов.”

“Мы рады, что команда разработчиков продолжит работу в Agilent,” сказал Джозеф П. Кейтли, председатель совета директоров компании, президент и генеральный управляющий. “Мы уверены, что их опыт будет способствовать дальнейшему развитию РЧ разработок в компании Agilent.”


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала