English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(486)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(563)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(463)
Новости Tektronix(194)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Платформа Keysight Technologies для выполнения измерений на полупроводниковых пластинах теперь имеет встроенную функцию измерения низкочастотных шумов

Платформа Keysight Technologies для выполнения измерений на полупроводниковых пластинах теперь имеет встроенную функцию измерения низкочастотных шумов

06.12.2016

Компания Keysight Technologies объявила о выпуске новой версии своего высокопроизводительного Низкочастотного анализатора шума (A-LFNA), который предназначен для выполнения быстрых, точных и воспроизводимых измерений низкочастотных шумов. Эта версия оснащена новым интерфейсом пользователя и непосредственно интегрируется с ПО WaferPro Express компании Keysight – платформой, выполняющей автоматические измерения на полупроводниковых пластинах. В рамках этой большой интегрированной среды данная платформа предоставляет инженерам исчерпывающее представление о природе шума в их устройствах и схемах, превосходя возможности измерения шумов в автономной системе.

Сегодня инженерам, занятым измерением параметров полупроводниковых приборов, нередко нужна система для измерения шумов, которая обладала бы гибкостью и возможностями расширения. В частности, востребована система, объединяющая расширенные измерения и анализ низкочастотного шума с измерениями на полупроводниковых пластинах в одной мощной платформе, способной управлять тестированием всех характеристик на уровне полупроводниковых пластин. Непосредственная интеграция A-LFNA с ПО WaferPro Express даёт именно такую функциональность. Это интегрированное решение упрощает измерение шума компонентов, отдельных устройств и интегральных схем, как в корпусах, так и на полупроводниковых пластинах. Как и раньше, с помощью WaferPro Express инженеры могут программировать и выполнять высокоскоростные измерения по постоянному току, измерения ёмкости и измерения высокочастотных S-параметров, автоматизируя при этом управление зондовой станцией. Теперь, благодаря модулю для измерения шумов, они могут добавить в набор тестов измерения и анализ шума.

Встроенные в A-LFNA процедуры измеряют параметры по постоянному току и шум. Например, чтобы измерить шум КМОП транзистора с N каналом, система автоматически выбирает импедансы источника сигнала и нагрузки, которые наилучшим образом выявляют собственный шум устройства. Инженер может принять эти рекомендованные настройки или внести изменения – на этом инициализация измерения заканчивается. Затем A-LFNA измеряет спектральную плотность мощности шума (шум 1/f) и уровень шума во временной области (RTN). Результирующие данные отображаются в виде нескольких графиков. Различные вкладки упрощают выполнение типовых операций, таких как оценка рабочей точки устройства по постоянному току и измерение наклона кривой спектральной плотности мощности. Кроме того, данные шума можно анализировать и представлять в моделях устройств с помощью средств моделирования, таких как Model Builder Program (MBP) и IC-CAP компании Keysight. Разработчики схем могут использовать эти модели для точного проектирования малошумящих ВЧ схем и аналоговых цепей.

«Наши заказчики, занимающиеся тестированием параметров и моделированием полупроводниковых приборов, предъявляют многообразные требования к измерениям, от оценки надёжности устройств на основе GaN и моделирования устройств КМОП до тестирования датчиков магнитного поля, – сказал Тодд Катлер (Todd Cutler), вице-президент и генеральный менеджер отдела ПО для проектирования и измерений компании Keysight. – Благодаря новому интерфейсу пользователя ПО A-LFNA, наши заказчики получают уникальную возможность измерять и моделировать шум устройств на полупроводниковых пластинах, и одновременно могут пользоваться полным и гибким набором измерительных функций – от измерений по постоянному току до измерения ёмкости и S-параметров в СВЧ диапазоне».

Keysight A-LFNA обладает лучшей в отрасли чувствительностью к шумам (-183 дБВ2/Гц), что позволяет инженерам, занятым моделированием и измерением параметров цепей, быстро и точно измерять характеристики устройств на высоких напряжениях (до 200 В) и на сверхнизких частотах (от 0,03 Гц). Благодаря таким возможностям A-LFNA идеально подходит для разработки библиотек для технологических процессов на заводах, выпускающих полупроводниковые приборы, и для статистического управления процессами во время изготовления устройств. Производители операционных усилителей и линейных стабилизаторов напряжения тоже могут использовать A-LFNA для измерения параметров выходного шума с целью включения их в технические характеристики.

Более подробную информацию можно найти на сайте www.keysight.com/find/eesof-a-lfna.

www.keysight.com


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 2 Апрель 2019
КИПиС 2019 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала