English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(467)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(538)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Совместные семинары National Instruments и Tektronix в США

Совместные семинары National Instruments и Tektronix в США

01.03.2010

Компании National Instruments и Tektronix объявили об открытии регистрации на семинар «Измерительное оборудование и методы анализа при проектировании встраиваемых систем» (Measurement and Analysis Techniques for Embedded System Design Engineers). Семинар будет проводиться в период с 2 марта по 18 мая в 11 городах США. Участие в семинаре бесплатно. Семинар предназначен для инженеров-проектировщиков встраиваемых систем для повышения эффективности процесса проектирования и рассчитан на половину рабочего дня.

Основная тема семинара: времясберегающие методики измерений и анализа результатов. Будет рассматриваться использование при проектировании таких инструментов, как осциллографы Tektronix в сочетании с программным обеспечением LabVIEW компании National Instruments.

Семинар состоит из трех сессий, в ходе которых специалисты компаний Tektronix и National Instruments подробно расскажут о методах достижения наибольшей эффективности. Будут рассматриваться следующие темы:

  • Усовершенствованные методы осуществления измерений протоколов USB, SPI и I2C.
  • Анализ данных эффективности работы и других характеристик для их представления в информативном виде.
  • Визуализация данных измерений и формирование отчета.
  • Подключение нескольких измерительных приборов к ПК или ноутбуку по протоколам GPIB, USB, PXI или Ethernet/LXI для оптимизации управления приборами и процессом измерений.


Города и даты проведения семинара (США):

  • Остин, 2 марта 2010
  • Даллас, 4 марта 2010
  • Сан-Диего, 23 марта 2010
  • Санта-Клара, 25 марта 2010
  • Торонто, 13 апреля 2010
  • Вашингтон, 20 апреля 2010
  • Ньюарк, 27 апреля 2010
  • Бостон, 29 апреля 2010
  • Орландо, 11 мая 2010
  • Феникс, 13 мая 2010
  • Портленд, 18 мая 2010

Зарегистрироваться для участия в семинаре можно на сайте: www.nitekseminar.com


National Instruments (www.ni.com)

Tektronix (www.tektronix.com)


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.08.1834
День рождения