English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(427)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(510)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(244)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(57)
Новости Rohde & Schwarz(386)
Новости Tektronix(180)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(94)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Совместный семинар Agilent Technologies и Cascade Microtech «Тестирование полупроводниковых приборов»

Совместный семинар Agilent Technologies и Cascade Microtech «Тестирование полупроводниковых приборов»

09.03.2010

Компании Agilent Technologies и Cascade Microtech приглашают Вас принять участие в 2х-дневном совместном бесплатном семинаре «Тестирование полупроводниковых приборов с помощью измерительных приборов Agilent Technologies и зондовых станций Cascade Microtech», который пройдет в Москве с 24 по 25 марта 2010 г.

Качественное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току, а также в ВЧ- и СВЧ-диапазоне являются критически важными задачами для успешной разработки нового микроэлектронного устройства. В большинстве случаев эти измерения выполняются на полупроводниковых пластинах. Компания Agilent Technologies совместно с компанией Cascade Microtech предлагают единственное в мире, функционально законченное решение, которое включает в себя измерительные приборы и программное обеспечение для автоматического проектирования компании Agilent, а также зондовые станции компании Cascade.

Для измерений по постоянному току в настоящее время во многих крупных государственных корпорациях и исследовательских институтах России успешно используется отлично себя зарекомендовавший параметрический анализатор Agilent B1500A. Этот модульный прибор под управлением удобной графической среды Agilent EasyExpert становится мощным центром для проведения измерений вольт-амперных (ВАХ) и вольт-фарадных (ВФХ) характеристик в непрерывном или импульсном режиме, управления матрицами коммутации, полуавтоматическими зондовыми станциями и другими приборами. Недавно компания Agilent представила новую версию параметрического анализатора Agilent B1505A, приспособленного для измерения параметров мощных полупроводниковых приборов, а также обладающего уникальной функцией характериографа.

Для измерений в области и ВЧ и СВЧ диапазона, в частности, измерения S-параметров в непрерывном или импульсном режиме, коэффициента шума, компрессии коэффициента усиления, интермодуляционных и гармонических искажений и многих других измерений, Agilent предлагает самый современный векторный анализатор цепей серии Agilent PNA-X. Этот прибор производится в 4-х версиях с частотным диапазоном до 13.5, 26.5, 43.5 и 50 ГГц. Благодаря высоким техническим характеристикам и широчайшим функциональным возможностям этот прибор позволяет заменить собой целые измерительные стойки и обеспечить значительный выигрыш по точности и скорости измерений по сравнению с другими решениями.

Цель семинара: познакомить слушателей с новыми решениями Agilent Technologies и Cascade Microtech в области полупроводникового тестирования.


Познакомиться с подробной программой семинара, а также подать заявку на участие можно на сайте представительства Agilent Technologies в России: www.agilent.ru/find/russia_events

Заявки на участие принимаются до 19 марта.

www.agilent.ru



О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.10.1905
День рождения