English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(466)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(537)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Бесплатный Веб-семинар компании Keithley расскажет о приемах, методиках и решениях для тестирования характеристик полупроводников

Бесплатный Веб-семинар компании Keithley расскажет о приемах, методиках и решениях для тестирования характеристик полупроводников

22.03.2010

Компания Keithley Instruments, мировой лидер в производстве измерительного оборудования и систем для определения электрических величин, предлагает принять участие в бесплатном веб-семинаре: «Приемы, методы и решения для тестирования характеристик полупроводников» (Tips, Tricks, and Traps of Semiconductor Capacitance-Voltage (C-V) Testing).

Семинар пройдет в четверг, 25 марта 2010 г., в двух сессиях:


Этот веб-семинар является тематическим продолжением материала, изложенного на семинаре «Основы определения характеристик полупроводников» (Semiconductor Capacitance-Voltage (C-V) Testing Fundamentals), и предназначен для инженеров осуществляющих разработку, отладку и калибровку систем для измерения электрической емкости и напряжения. На семинаре будут обсуждаться основные требования и методики, необходимые для получения хороших результатов измерения. Среди обсуждаемых тем – настройка системы для измерения и получение высоковольтных и квазистатических характеристик емкости и напряжения.

Веб-семинар «Приемы, методы и решения для тестирования характеристик полупроводников» проводится бесплатно.

Более подробную информацию об этом и других веб-семинарах компании Keithley можно узнать на сайте  www.keithley.com/events/semconfs/webseminars.

www.keithley.com


О компании:  Keithley Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.08.1892
День рождения