English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(393)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания Agilent Technologies представила новую серию портативных логических анализаторов

Компания Agilent Technologies представила новую серию портативных логических анализаторов

15.10.2013

Компания Agilent Technologies Inc. представила новые портативные логические анализаторы серии 16850. Новые приборы обеспечивают самый быстрый в отрасли анализ временных диаграмм с помощью глубокой памяти для ускорения отладки цифровых систем. Кроме того, анализаторы серии 16850 являются единственными в отрасли портативными логическими анализаторами, имеющими опции и несимметричных, и дифференциальных пробников, что позволяет разработчикам сократить сроки вывода на рынок быстродействующих цифровых устройств.

Видеоролик с презентацией новых портативных логических анализаторов Agilent представлен на странице www.agilent.com/find/16850-series_video.

«По мере повышения быстродействия цифровых систем нашим заказчикам требуются более быстрые измерения временных характеристик с задействованием глубокой памяти и большого числа входных каналов. Все это способны предоставить логические анализаторы серии 16850, — сказал Джей Александер (Jay Alexander), вице-президент и генеральный менеджер подразделения осциллографов и решений для тестирования протоколов компании Agilent. — Сочетание этих возможностей с широким выбором опций пробников позволяет разработчикам цифровых систем быстрее выполнять отладку устройств при решении различных прикладных задач».

Разработчики быстродействующих цифровых устройств используют логические анализаторы с целью сокращения сроков отладки и аттестации цифровых систем. Очень часто им требуется осуществлять запуск измерений по различным признакам неисправностей, например, по задержке сигнала или признаку ошибки, когда основное событие, вызвавшее сбой, фактически произошло задолго до события запуска. Высокоскоростной анализ временных диаграмм с помощью глубокой памяти анализаторов серии 16850 позволяет инженерам просматривать предысторию для обнаружения причин неисправностей. Высокое разрешение этих приборов дает возможность разграничивать проблемы, связанные с временными характеристиками, и функциональные сбои, обеспечивая более глубокое понимание происходящих в устройстве процессов, необходимое для ускорения разработки новых продуктов.

Благодаря частоте сбора данных в режиме анализа временных диаграмм 2,5 ГГц (400 пс) по всем входным каналам и глубине памяти до 128 млн. выборок логические анализаторы серии 16850 обеспечивают на 50% более быстрые измерения временных характеристик с задействованием глубокой памяти и в 2 раза больший объем памяти, чем любые другие портативные логические анализаторы на рынке.

В режиме анализа логических состояний анализаторы Agilent серии 16850 обеспечивают скорость передачи данных 700 Мбит/с в стандартной комплектации с возможностью увеличения до 1400 Мбит/с. Пользователь может выбрать нужную ему глубину памяти от 2 млн. выборок в стандартной комплектации до 128 млн. выборок при использовании опций. Опции увеличения скорости передачи данных и глубины памяти могут быть также заказаны и после приобретения прибора.

Анализаторы серии 16850 имеют генератор последовательностей запуска с частотой 1,4 ГГц, который позволяет контролировать высокоскоростные схемы и задавать специфические условия запуска для поиска ошибок и быстрого выявления причин неисправностей.

Логические анализаторы новой серии предлагают измерительные решения для широкого спектра шин и типов сигналов. Динамический пробник для ПЛИС, встроенный в интерфейс приборов, обеспечивает возможность автоматического просмотра внутренних сигналов ПЛИС Xilinx и Altera с использованием глубокой памяти для захвата логических состояний.

Для анализаторов серии 16850 были разработаны новые недорогие пробники, в том числе пробники с гибкими выводами (flying lead) и пробники Mictor. Благодаря разнообразным принадлежностям для подключения к тестовым точкам пробники с гибкими выводами поддерживают измерения несимметричных сигналов данных и дифференциальных тактовых сигналов.

Существующие пробники с 90-контактными разъемами, предназначенные для модульных логических анализаторов Agilent, также совместимы с новыми приборами, что позволяет использовать портативные логические анализаторы с дифференциальными пробниками, пробниками для устройств памяти DDR в корпусе BGA, а также пробниками, подключаемыми в гнездо модуля памяти DDR.

Многие разработчики встроенных систем используют в своих устройствах модули памяти DDR2 и DDR3. Логические анализаторы серии 16850 предоставляют им недорогое решение для отслеживания адресов памяти и контроля шин в режиме анализа логических состояний, обеспечивая возможность декодирования шин памяти, тестирования на соответствие стандартам, а также анализа производительности. Анализаторы серии 16850 позволяют определять характеристики модулей памяти вплоть до стандартов DDR2 1333 и DDR3 1333.

Дополнительную информацию о логических анализаторах серии 16850 можно найти на странице www.agilent.com/find/16850-series. Изображения приборов доступны по адресу www.agilent.com/find/16850-series_images. Демонстрационный видеоролик о новых портативных логических анализаторах Agilent представлен на странице www.agilent.com/find/16850-series_video.


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
18.12.1890
Родился американский радиоинженер и изобретатель
18.12.1856
День рождения