English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Семинар «Основы метрологии»

Семинар «Основы метрологии»

06.02.2017

Keysight Technologies приглашает принять участие в семинаре «Основы метрологии», который пройдет в Новосибирске 08 февраля 2017.

В ходе разработки и производства электронных устройств инженеры полагаются на данные измерений, выполненных различными контрольно-измерительными приборами. Прослеживаемость, точность и воспроизводимость - ключевые понятия метрологии. С целью поддержки развития технологий и обеспечения единства измерений метрологические службы предприятий должны гарантировать прослеживаемость измерений различных электрических параметров, в том числе, тока, напряжения, импеданса и мощности в требуемом диапазоне частот.

В настоящий момент электрические и радиочастотные стандарты, прослеживаемые до метрологических лабораторий, имеют максимальный диапазон частот 110 ГГц. (в тракте 1-мм). Компания Keysight работает с несколькими национальными метрологическими институтами по всему миру, чтобы расширить прослеживаемость измерений в диапазоне свыше 110 ГГц.

В ходе семинара будут представлены новейшие технологии, разработанные для повышения точности, воспроизводимости и прослеживаемости измерений метрологического класса. Эксперты-метрологи Keysight расскажут об основных требованиях, предъявляемых к калибровке, о типичных ошибках калибровки, отдельно остановятся на возможных источниках этих ошибок. Также будут рассмотрены вопросы погрешности измерений, верификации калибровки и использование стандартов верификации для оценки работы откалиброванной системы. В финальной части семинара будет рассказано о новейших технологических достижениях в калибровке и о том, что нужно принимать во внимание при выборе приборов для метрологических измерений.

К участию приглашаются главные метрологи, главные инженеры и руководители, отвечающие за качество измерений и управление парком измерительных приборов предприятия.

Подробную программу семинара можно посмотреть по данной ссылке.
Для участия в семинаре необходимо зарегистрироваться. Подробнее.

www.keysight.com


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
14.12.1922
Родился советский физик