English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(474)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Открытие и Первый день конференции NIWeek 2010

Открытие и Первый день конференции NIWeek 2010

03.08.2010

Сегодня, 3 августа, тысячи наиболее выдающихся инженеров, ученых, изобретателей, преподавателей и студентов собираются в г.Остин (штат Техас, США) на NIWeek 2010 - ведущей конференции и выставке по системам графического проектирования.

Конференция пройдет с 3 по 5 августа в выставочном центре Austin Convention Center (г.Остин, штат Техас, США). Компания National Instruments проводит конференцию NIWeek ежегодно, уже в течение 16 лет. В каждый день конференции руководители и разработчики компании будут проводить тематические презентации и доклады.

3 августа д-р Джеймс Тручард (Dr. James Truchard) - президент, генеральный директор и соучредитель National Instruments - расскажет о новейших технологиях и разработках, в частности, о разработке потокового цифрового сигнального процессора (DSP) и программного обеспечения определенных радиостанций для оптимизации систем графического дизайна.

В течение этой масштабной трехдневной конференции участники смогут посетить технические презентации, практические семинары, доклады по тематическим исследованиям, а также принять участие в важных для данной отрасли дискуссиях. Участникам также предоставлена возможность улучшить свои знания по Instruments LabVIEW и примкнуть к мировому сообществу NI LabVIEW. На выставке продемонстрируют свою новую продукцию и решения более чем 200 экспонентов.

  

Подробнее о NIWeek можно узнать, пройдя по ссылке http://www.ni.com/niweek/


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ