English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

National Instruments предоставила возможность автоматизированного тестирования оборудования сетей LTE

National Instruments предоставила возможность автоматизированного тестирования оборудования сетей LTE

22.10.2010

Компания National Instruments представила набор библиотек для тестирования протокола беспроводной связи LTE, используемый совместно с радиочастотными векторными генераторами и анализаторами сигналов в формате PXI. Возможности новой платформы были продемонстрированы специалистами National Instruments на Всемирной конференции по беспроводным сетям 4-го поколения (4G World), проходившей 20 и 21 октября в Чикаго. Новая платформа была разработана специально для функционального тестирования беспроводных модулей, подсистем, станций мобильной связи и представляет собой функционально гибкое и высокоточное решение для специалистов, занимающихся разработкой специализированных систем тестирования оборудования, работающего в сетях LTE.

Аппаратно-программная платформа LTE Measurement Suite – это система, в которой модульное оборудование PXI тесно интегрировано со специализированным программным обеспечением. Комплекс состоит из векторных анализатора NI PXIe-5663E и генератора радиочастотных сигналов NI PXIe-5673E, контроллера и шасси PXI. Специалисты по радиоизмерениям могут использовать данный аппаратно-программный комплект для тестирования протокола LTE, а также других современных беспроводных стандартов связи. Согласно последним оценкам производительности и точности измерений, система тестирования LTE обладает амплитудой вектора ошибки (EVM) менее -48 дБ и способна проводить измерения значительно быстрее аналогичных систем, построенных на базе традиционных радиоизмерительных приборов. 

Аппаратно-программная платформа для тестирования беспроводных сетей LTE дополнила перечень готовых решений для тестирования беспроводных протоколов связи, включивший в себя системы для функциональных тестов таких стандартов, как фиксированный и мобильный протоколы WiMAX, беспроводной LAN, GPS, Bluetooth и т. д. Платформа для тестирования протокола LTE также может дополняться такими радиоизмерительными приборами, как генераторы и анализаторы сигналов, измерители мощности и другим оборудованием, работающем как на постоянном токе, так и в основной полосе частот. Дополнительным преимуществом программируемой платформы PXI является наличие более 1500 измерительных модулей, а также более 70 поставщиков оборудования, способного соответствовать практически любым техническим требованиям.

Более подробную информацию о технологиях National Instruments для радиоизмерений, можно узнать на веб-ресурсе www.ni.com/rf

National Instruments, www.ni.com/russia


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
14.12.1922
Родился советский физик