English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(532)
Новости Anritsu(114)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(612)
Новости Metrel(20)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(79)
Новости Rohde & Schwarz(517)
Новости Tektronix(207)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(103)
Новости Росстандарта(138)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Технологии National Instruments для образовательных, научных и инженерных приложений

04.12.2010

3 декабря 2010 года, состоялся первый день научно-практической конференции «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments - 2010».

Конференция проводится 3-4 декабря 2010 года в Российском Университете Дружбы Народов. В этом году меропиятие проводится в девятый раз.  

На открытии конференции участники прослушали доклады о последних тенденциях в инженерном образовании, успешных проектах в области научных исследований и промышленных приложений.

Регистрация участников Открытие конференции

После открытия конференции и небольшого кофе-брейка, участникам предоставился выбор между четырьмя техническими саммитами по темам: «LabVIEW 2010. Новые возможности среды разработки», «Модульные приборы PXI в радиоэлектронике», «Многоканальные системы измерения сигналов с датчиков для научных и испытательных стендов», «Практикумы по техническим дисциплинам».

В течение двух дней участники смогут услышать более 100 докладов о применении самых современных технологий в научных, образовательных и промышленных приложениях. Специалисты компании National Instruments проведут технические презентации новых продуктов NI и интерактивные мастер-классы по LabVIEW, измерительным и образовательным платформам.

Выставочный зал стал своебразным центром для общения участников

В рамках конференции также проходит выставка решений компании National Instruments и ее партнеров для самых передовых областей, таких как робототехника, связь и телекоммуникации, беспроводные системы сбора данных, автоматизиваронные тестовые системы, встраиваемые платформы и другие.

Стенд самых молодых участников выставки решений

Подробнее о программе конференции можно узнать на сайте www.labview.ru/conference


О компании:  NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 3 Июнь 2020
КИПиС 2020 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
09.08.1776
Родился итальянский ученый, физик и химик