English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар «Технологические решения National Instruments для разработки и тестирования средств радиосвязи, мониторинга радиоэфира и РЭБ»

Семинар «Технологические решения National Instruments для разработки и тестирования средств радиосвязи, мониторинга радиоэфира и РЭБ»

09.03.2017

Семинар «Технологические решения National Instruments для разработки и тестирования средств радиосвязи, мониторинга радиоэфира и РЭБ» пройдёт 17 марта 2017 в Омске.

Место проведения: гостиница Ibis, , ул. Ленина, 22, г. Омск.

В программе семинара:

  • Платформенный подход к разработке, макетированию и тестированию радиосредств
  • Технология программно-определяемого радио (SDR) для прототипирования систем радиосвязи
  • Сокращение времени и затрат в полевых испытаниях радиосредств
  • Подготовка инженерных кадров и образовательная программа National Instruments
  • Платформа PXI для автоматизации радиоизмерений и создания сложных радиокомплексов
  • Системы автоматизированного тестирования радиоаппаратуры
  • Защита от контрафакта. Тестеры для входного контроля ЭКБ

Посещение семинара будет полезно специалистам предприятий, занимающихся электрическими измерениями, контролем качества продукции, разработкой радиоэлектроники и АСУТП, научными исследованиями.

Зарегистрироваться на мероприятие можно по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала