English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Семинар "Инженерные интерфейсы в LabVIEW: среда и возможности"

Семинар "Инженерные интерфейсы в LabVIEW: среда и возможности"

21.03.2017

Семинар "Инженерные интерфейсы в LabVIEW: среда и возможности" пройдёт 24 марта 2017 в Сколково и будет посвящён основным методикам создания пользовательских интерфейсов в среде LabVIEW. Мероприятие проходит при поддержке проекта "Дни промышленного дизайна в Сколково".

Точное место проведения: г. Москва, Technopark Skolkovo LLC, капсула National Instruments, Инновационный центр "Сколково", Большой бульвар 42, корпус 1.

В деловой программе семинара:

  • Описание среды разработки LabVIEW и её возможностей
  • Создание анимированных интерфейсов в среде LabVIEW
  • Защита интерфейсов
  • Создание промышленных пользовательских интерфейсов
  • Лекция "От создателя к пользователю: как дизайн влияет на судьбу продукта"
  • Мастер-класс «Базовые принципы хорошего дизайна интерфейса»
  • Разработка интерфейсов комплекса мониторинга технологического процесса в промышленности
  • Демонстрация интерфейсных изменений в новой версии LabVIEW – Software Technology Preview
  • Мастер-класс по основам программирования в среде разработки LabVIEW
  • Мастер-класс по основным инструментам для создания пользовательских интерфейсов в среде LabVIEW

Посмотреть полную программу и зарегистрироваться можно по данной ссылке.

www.ni-events.timepad.ru


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"