English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новые шасси NI PXI Express с дополнительными слотами и увеличенной производительностью

Новые шасси NI PXI Express с дополнительными слотами и увеличенной производительностью

04.01.2011

Компания National Instruments выпустила 2 новых шасси PXI Express, равных по стоимости предшествующим моделям и обладающих увеличенным числом слотов и повышенной производительностью для применения в системах автоматизированного тестирования и управления. Инженеры смогут использовать шасси NI PXIe-1078 с девятью слотами и шасси NI PXIe-1071 с четырьмя слотами совместно как с последними модулями и контроллерами PXI Express, так и со всеми приборами в формате PXI, выпущенными ранее.

По словам Эрика Старклоффа (Eric Starkloff), вице-президента NI по маркетингу, с выпуском новых шасси PXIe-1078 и PXIe-1071 компания National Instruments смогла расширить номенклатуру до 20 различных типов шасси PXI и PXI Express, обеспечивая специалистов максимальной гибкостью при разработке систем на базе PXI. Компания National Instruments предлагает наиболее полный спектр решений на рынке, если имеется необходимость в оптимизации системы по стоимости, габаритам, общей производительности и сохранении совместимости с предыдущими версиями.

Шасси NI PXIe-1078 с девятью слотами имеет общую пропускную способность системы в 1 ГБ/с. Шасси позволяет устанавливать встраиваемый промышленный контроллер в первый слот и поддерживает работу восьми периферийных слотов PXI Express, пять из которых имеют обратную совместимость с PXI. Кроме того NI PXIe-1078 имеет на один слот больше, чем имеющее такую же стоимость стандартное восьмислотовое шасси NI PXI-1042. При небольшой глубине в 214,2 мм (8,43 дюйма) шасси NI PXIe-1078 обеспечивает большее число слотов для приложений с жесткими требованиями к габаритам.

Шасси NI PXIe-1071 с четырьмя слотами обладает общей пропускной способностью системы в 3 ГБ/c. Шасси позволяет устанавливать встраиваемый промышленный контроллер в первый слот и имеет дополнительно три комбинированных слота для модулей как формата PXI Express так и PXI. Также шасси NI PXIe-1071 обеспечивает в 20 раз большую пропускную способность, по сравнению с аналогичными по стоимости стандартными четырехслотовыми шасси NI PXI-1031. Оба шасси имеют компактный форм-фактор и работают в широком диапазоне температур от нуля до 50 градусов Цельсия.

Шасси представляет собой основной компонент систем на базе PXI. В связи с этим все шасси компании National Instruments обеспечивают высокую надежность, необходимый уровень охлаждения, а также оптимальные акустические и электрические характеристики. Новые шасси обладают полной совместимостью со всеми PXI/PXI Express-модулями производства как National Instruments, так и сторонних производителей. Данные шасси являются неотъемлемой частью измерительной системы и обладают тесной интеграцией с программным обеспечением NI, в том числе средой графического программирования NI LabVIEW и программным обеспечением NI TestStand для построения больших автоматизированных систем тестирования и управления.

Узнайте больше о шасси PXI Express на странице www.ni.com/pxi.

National Instruments
www.ni.com/russia


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"