English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

NIFriday 2017. Ежегодная конференция о технологиях и разработках National Instruments в Российской науке и промышленности

NIFriday 2017. Ежегодная конференция о технологиях и разработках National Instruments в Российской науке и промышленности

29.03.2017

Конференция о технологиях и разработках National Instruments в Российской науке и промышленности NIFriday 2017 пройдёт 7 апреля 2017 г. в Нижнем Новгороде (Торгово-Промышленная палата, ул. Нестерова, 31).

Программу конференции составят следующие темы и вопросы:

  • Презентация новых решений NI
  • Демонстрация оборудования
  • Опыт внедрения на предприятиях РФ
  • Образование и наука
  • Демонстрация возможностей новой версии LabVIEW
  • Актуальные решения от партнеров
  • Опыт применения в мире
  • Современные проблемы и вызовы
  • Круглый стол

Зарегистрироваться для участия в конференции NI Friday можно по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"