English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(473)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Agilent Technologies приглашает на семинар по оборудованию для комплексного тестирования полупроводниковых приборов

23.05.2011

01-02 июня 2011 компании Agilent Technologies, Cascade Microtech и Maury Microwaves проводят уникальный совместный семинар «Тестирование полупроводниковых приборов с помощью измерительного оборудования Agilent Technologies, зондовых станций Cascade Microtech и тюнеров импеданса Maury Microwave».


Для успешной разработки современных микроэлектронных устройств требуется качественное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току, а также в СВЧ- и миллиметровом диапазоне, которое в большинстве случаев выполняется на полупроводниковых пластинах. Компания Agilent Technologies совместно с компанией Cascade Microtech и Maury Microwave предлагают функционально законченные решения, которые включают в себя параметрические анализаторы, анализаторы цепей и САПР компании Agilent Technologies, зондовые станции компании Cascade Microtech и тюнеры импеданса компании Maury Microwave.

Во многих крупных организациях и исследовательских институтах России для измерений по постоянному току успешно используется параметрический анализатор Agilent B1500A, который под управлением графической среды Agilent EasyExpert становится мощным центром для проведения измерений вольт-амперных (ВАХ) и вольт-фарадных (ВФХ) характеристик в непрерывном или импульсном режиме. Для измерения параметров мощных полупроводниковых приборов, помимо Agilent B1500A, компания Agilent Technologies также предлагает параметрический анализатор Agilent B1505A с возможностью генерации/измерения токов до 40А или напряжения до 3 кВ в импульсном режиме.

В мае 2011 года Agilent Technologies представит новую серию экономичных источников/измерителей Agilent B2900A для тестирования полупроводниковых приборов в диапазоне до 210В и 3А (10А в импульсном режиме).

Для измерений в области и СВЧ/миллиметрового диапазона, в частности, измерения S-параметров в непрерывном или импульсном режиме, коэффициента шума, компрессии коэффициента усиления, интермодуляционных и гармонических искажений, а также анализа цепей в нелинейном режиме, измерения X-параметров и многих других измерений, Agilent предлагает уникальный по своим возможностям векторный анализатор цепей серии Agilent PNA-X. Недавно в серию анализаторов Agilent PNA-X была добавлена модель с 67ГГц частотным диапазоном.

Для тестирования полупроводниковых приборов с импедансом отличным от 50 Ом, измерения параметров шума, анализа цепей в нелинейном режиме, импульсных IV измерений и задач типа «load pull», компания Maury Microwaves предлагает тюнеры импеданса с ручным или автоматическим управлением, программное обеспечение «active load pull» для Agilent PNA-X (без использования механических тюнеров импеданса), а также специальное решение от Maury Microwaves, которое позволяет проводить синхронизированные импульсные IV/RF измерения.

За подробной информацией необходимо обращаться по телефону +7 (495) 7973928 или направлять заявки по эл.почте tmo_russia@agilent.com

Agilent Technologies
www.agilent.ru


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ