English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(471)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(540)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(64)
Новости Rohde & Schwarz(430)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(81)
Новости Росстандарта(117)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Anritsu представляет осциллографический пробник с высокой частотой дискретизации

Anritsu представляет осциллографический пробник с высокой частотой дискретизации

16.08.2011

Компания Anritsu представляет пассивный пробник J1512A для BERTWave MP2100A BERT и решения EYE/Pulse Scope. Совместимый с осциллографами ГГц диапазона, J1512A упрощает мониторинг и определение уровней и формы сигналов электронных устройств платы без коаксиальных разъемов, таких как SMA разъемы, что позволяет инженерам более эффективно проверять конструкцию их разработок высокоскоростных цифровых средств связи и других устройств.

Покрывая диапазон частот от 0 до 7,5 ГГц, пассивный пробник J1512A имеет низкую входную емкость 0,5 пФ (макс.) и подходит для мониторинга высокоскоростных сигналов. Кроме того, изменяя сопротивление, можно переключать отношение затухания пробника между 10:01 и 20:01 для оптимизации к условиям измерения. Точная оценка высокочастотных схем обеспечивается коротким проводом заземления и отличной эластичностью J1512A.

Добавляя этот высокочастотный пробник к серии MP2100A, разработчики и производители получают высокоэффективное и точное решение для проверки производительности высокоскоростного оборудования и устройств, используемых в сетях следующего поколения. BERTWave MP2100A является универсальным инструментом для измерений и анализа BER, глазковых и импульсных диаграмм. Поскольку он выполняет измерения BER и анализ глазковой диаграммы одновременно, это значительно сокращает время измерений. Это решение идеально подходит для тестирования как на стадии разработки, так и на производстве, повышая эффективность и снижая стоимость проведения испытаний за счет исключения трудоемкой настройки.

Anritsu Corporation
www.anritsu.com


О компании:  Anritsu

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
24.09.1501
день рождения