English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(427)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(510)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(244)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(57)
Новости Rohde & Schwarz(386)
Новости Tektronix(180)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(94)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Новая технология расширенного покрытия Agilent Technologies позволяет обойтись без физических контрольных точек при внутрисхемном тестировании

30.04.2008

Компания Agilent Technologies объявила о выпуске решения для внутрисхемного тестирования (ICT) устройств с ограниченным доступом, позволяющего обойтись без физических контрольных точек и обладающего преимуществами, которые не может предложить традиционный метод тестирования VTEP. Являясь частью расширенного тестового комплекта Agilent’s VTEP v2.0, технология расширенного покрытия Agilent Cover-Extend представляет собой комбинацию двух методов тестирования, широко применяющихся в электронной промышленности: периферийное сканирование (Boundary Scan) и безвекторное тестирование VTEP.

В отличие от традиционного теста VTEP, которому необходимы физические контрольные точки на печатной плате для подачи испытательных сигналов, технология Cover-Extend компании Agilent использует сигналы, предоставляемые ячейками периферийного сканирования, которым не нужны физические контрольные точки. Преимущества этой технологии:

  • Расширенный охват теста, позволяющий сократить инвестиции в контрольно-измерительное оборудование. Технология Cover-Extend может покрывать до 50 процентов узлов доступа.
  • Значительная экономия на крепежных приспособлениях, стоимость которых представляет собой постоянные текущие расходы и со временем может легко превысить стоимость самой системы внутрисхемного тестирования. В типичном случае, применение технологии Cover-Extend на 30 промышленных линиях может сэкономить до 500 000 долларов в год.
  • Снижение механической нагрузки на места пайки в связи с меньшим количеством зондов, подключаемых к ИС с высокой степенью интеграции (например к BGA), что значительно снижает вероятность повреждения паек из-за чрезмерных механических напряжений.

“Технология Cover-Extend призвана решить ключевые проблемы современного производства – проблемы затрат, покрытия, качества и скорости”, – сказал Даниэль Мак, вице-президент и генеральный менеджер отдела измерительных систем компании Agilent. “Отзывы, поступающие от наших потребителей, весьма положительны, и в апреле мы собираемся внедрить технологию Cover-Extend в крупномасштабное промышленное производство у некоторых наших клиентов”.

Более подробную информацию о комплекте для безвекторного тестирования Agilent Medalist VTEP v2.0 Powered можно получить на сайте www.agilent.com/see/vtep.


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.10.1905
День рождения