Образовательный форум «Возможности дизайна и тестирования по стандартам высокоскоростных последовательных интерфейсов будущего поколения (PCIe 3, DDR 3/4, USB 3, FPGA 28 Gbps)»

Компания Agilent Technologies, на правах генерального спонсора, приглашает посетить один из двух бесплатных образовательных семинаров, которые пройдут в рамках выставки DesignCon 2012.

Вы можете зарегистрироваться прямо сейчас через сайт выставки DesignCon. Если Вы уже зарегистрированы, зайдите в свой профайл и добавьте любой из семинаров в своё расписание.

Для разработок сегодняшнего дня необходимо применение оборудования по последнему слову техники, а также контроль, гарантирующий надёжность и беспрепятственное осуществление производственного процесса. Перед вами уникальный шанс применить доступные инструменты для тестирования в ходе процесса работы высокоскоростных последовательных интерфейсов, начиная с разработки и моделирования, от включения до отладки, использования контрольной системы и проверки на соответствие.

Целевая аудитория

• Производители микросхем, которые включают высокоскоростные последовательные соединения – все, кто хочет убедиться, что их разработки соответствуют техническим характеристикам и проходят проверку перед непосредственным выходом продукции.
• Разработчики печатных плат, которые используют высокоскоростные цифровые передатчики/приёмники и должны заниматься разработкой/отладкой и проверкой итоговой продукции.

Повестка дня

• Моделирование и производство: оценка степени влияния различных вариантов на разработки высокоскоростных последовательных технологий. Использование моделирования и измерения для отладки и подготовки итоговой продукции.
• Разработка чипов/плат: понимание и моделирование физических и электрических характеристик пассивных компонентов и соединений, даже если контактное измерение невозможно.
• Включение и стабилизация: процесс включения, напряжение и согласование по времени при включении, измерение соотношений, отдельных приборов и физических элементов.
• Отладка, проверка и характеристика: раскрытие глазковой диаграммы, наклон, влияние нагрузки и температуры.
• Системное тестирование: Эффективная проверка в соответствии с наличествующими системными условиями.
• Соответствие: тестирование на соответствие стандартам.
• Демонстрации с использованием следующих стандартов: PCIe Gen 3, USB 3.0, 28 Gbps FPGA и DDR3/4

Первая сессия
Дата: Пн., 30 января, 2012
Время: 13:30 – 16:30
Место проведения: демонстрационный зал на втором этаже, Конвеншн-центр в Санта-Кларе (Santa Clara Convention Center)

Вторая сессия
Дата: Ср., 1 февраля, 2012
Время: 8:30 - 11:30
Место проведения: демонстрационный зал на втором этаже, Конвеншн-центр в Санта-Кларе (Santa Clara Convention Center)