English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(514)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(593)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(491)
Новости Tektronix(199)
Новости Texas Instruments(19)
Новости Yokogawa(89)
Новости Росстандарта(135)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Вебинар National Instruments “Основы и терминология сбора данных”

Вебинар National Instruments “Основы и терминология сбора данных”

18.08.2017

22 августа 2017 компания National Instruments проводит вебинар «Основы и терминология сбора данных».

Время вебинара: 11:00 – 12:00 (Москва).

Для успешной разработки приложений для сбора данных Вам потребуются талант, опыт и обширные знания, включающие как понимание основных принципов работы датчиков, так и использование инновационных технологий и надежных программных архитектур.

  • Изучите основы и терминологию сбора данных.
  • Изучите основные составляющие процесса и принципы выполнения измерений.

Для регистрации на это мероприятие необходима учетная запись пользователя NI.

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2019
КИПиС 2019 № 6
Тема номера:
Новинки измерительной техники
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений