English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(431)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(513)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(248)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(390)
Новости Tektronix(182)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Платформа моделирования SystemVue 2017 компании Keysight Technologies эффективно сократила стоимость и потребляемую мощность трансиверов NB-IoT института ASTRI

Платформа моделирования SystemVue 2017 компании Keysight Technologies эффективно сократила стоимость и потребляемую мощность трансиверов NB-IoT института ASTRI

06.11.2017

Компания Keysight Technologies, Inc. объявила о том, что её передовая платформа для проектирования, моделирования и проверки систем SystemVue 2017 внесла весомый вклад в улучшение стандарта узкополосного Интернета вещей (NB-IoT). САПР SystemVue позволяет объединять имеющиеся модели НЧ-, ВЧ-трактов и каналов для оценки системы в целом. Улучшение, реализованное с помощью САПР SystemVue, позволило оптимизировать стандарт абонентского оборудования (АО) NB-IoT, облегчив реализацию маломощных терминальных ИС, что будет закреплено в выпусках 13 (исправленная версия) и 14 стандарта 3GPP.

NB-IoT представляет собой новый стандарт узкополосной беспроводной связи, разработанный для поддержки широкого диапазона новых устройств и услуг IoT. Этот стандарт определяет недорогую и маломощную аппаратную реализацию, ориентированную на массовое применение и обеспечение большого срока службы батарей.

Проектируя терминальный трансивер NB-IoT, специалисты Гонконгского исследовательского института прикладных наук и технологий (ASTRI) обнаружили неверное определение одного из требований к широкополосным интермодуляционным искажениям в приёмнике стандарта NB-IoT. Это требование было более жёстким, чем в стандарте LTE, что затрудняло создание недорогих/маломощных терминалов NB-IoT.

Платформа моделирования системного уровня на базе САПР SystemVue и библиотеки NB-IoT (разработанной совместно с ASTRI) подразделения EEsof компании Keysight позволила получить неопровержимые доказательства, необходимые для отправки официального запроса на изменение стандарта к 82-ой февральской сессии группы 3GPP RAN4 в Афинах (Греция). Изменение было полностью принято делегатами многих компаний.

“Будучи одним из старейших и активных участников группы стандартизации 3GPP NB-IoT, институт ASTRI является ведущим разработчиком терминальных трансиверов NB-IoT для международного рынка, – указал Том Лиллиг (Tom Lillig), генеральный менеджер отдела САПР компании Keysight. – САПР SystemVue играла и продолжает играть важнейшую роль в этой разработке, предлагая институту ASTRI возможности, необходимые для комплексной оценки проектируемых трансиверов на системном уровне. Без этих возможностей легко не заметить такие проблемы, как ошибочное определение в стандарте NB-IoT, которое пагубно сказывалось на применении и широком распространении устройств этого стандарта”.

“Институт ASTRI получил существенные преимущества от своевременного применения эффективной платформы моделирования SystemVue компании Keysight во время разработки алгоритмов обработки сигнала и ИС терминального трансивера NB-IoT, – сказал доктор Мейкей Леонг (Meikei Leong), технический директор ASTRI. – Наше сотрудничество с компанией Keysight не только улучшило международный стандарт NB-IoT, но и помогло нам занять выгодное положение на рынке терминалов NB-IoT”.

www.keysight.com


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.11.1904
Родился французский физик