English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(431)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(513)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(248)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(390)
Новости Tektronix(182)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

XV Международная конференция National Instruments NIDays 2017

XV Международная конференция National Instruments NIDays 2017

10.11.2017

XV Международная конференция National Instruments NIDays 2017 посвящена современным измерительным и информационным технологиям для построения автоматизированных систем тестирования, управления и мониторинга.

Традиционно конференция соберет лучших специалистов отрасли со всей России, стран СНГ и Балтии: руководителей предприятий, инженеров, профессоров и научных сотрудников. Инженеры компании National Instruments и альянс-партнеры расскажут о современных технологиях и новинках модульных приборов 2017 года, а также лучших решениях и самых интересных реализованных задачах.

Конференция состоится: 1 декабря 2017 года в Москве.
Адрес мероприятия: пл. Европы, д.2 (ст. м. Киевская кольцевая), гостиница "Рэдиссон Славянская".

В программе конференции:

Программные технологии
Данная тема будет посвящена вопросам применения графической среды программирования LabVIEW в различных отраслях. Помимо этого, будут рассмотрены возможности использования среды LabVIEW для связи с платформами National Instruments. Основной фокус будет направлен на демонстрацию новой версии LabVIEW, официальный релиз которой состоялся в 2017 году.

Электроника и радиотехника
Данная тема посвящена использованию технологий NI для проведения и автоматизации измерений в широком круге задач радиоэлектроники, включая мониторинг радиоэфира, разработку и тестирование ЭКБ, систем радиосвязи, радиолокации и РЭБ, исследование материалов, алгоритмов и систем.

Образовательная программа
Тема освещает применение технологий NI для образовательного процесса и научных исследований. Будут рассматриваться возможности и преимущества применения современных технологий, а также участие в различных мероприятиях и грантах.

Встраиваемые системы сбора данных и управления
Будут рассматриваться технологические и инфраструктурные возможности NI для развития бизнеса и производства, в том числе в контексте импортозамещения. Помимо этого будут освещены основные программные и аппаратные технологии компании для создания встраиваемых систем сбора данных, автоматизации и управления.

В рамках конференции NIDays 2017 пройдёт выставка с участием более чем 30 экспонентов, которые продемонстрируют свои проекты, разработки и услуги лучшим представителям инженерного сообщества, ученым и руководителям организаций разных сфер деятельности.

Для участия в конференции NIDays 2017 необходимо пройти регистрацию. Сделать это можно по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.11.1904
Родился французский физик