English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(534)
Новости Anritsu(115)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(612)
Новости Metrel(20)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(80)
Новости Rohde & Schwarz(518)
Новости Tektronix(207)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(103)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

XV Международная конференция National Instruments NIDays 2017

XV Международная конференция National Instruments NIDays 2017

10.11.2017

XV Международная конференция National Instruments NIDays 2017 посвящена современным измерительным и информационным технологиям для построения автоматизированных систем тестирования, управления и мониторинга.

Традиционно конференция соберет лучших специалистов отрасли со всей России, стран СНГ и Балтии: руководителей предприятий, инженеров, профессоров и научных сотрудников. Инженеры компании National Instruments и альянс-партнеры расскажут о современных технологиях и новинках модульных приборов 2017 года, а также лучших решениях и самых интересных реализованных задачах.

Конференция состоится: 1 декабря 2017 года в Москве.
Адрес мероприятия: пл. Европы, д.2 (ст. м. Киевская кольцевая), гостиница "Рэдиссон Славянская".

В программе конференции:

Программные технологии
Данная тема будет посвящена вопросам применения графической среды программирования LabVIEW в различных отраслях. Помимо этого, будут рассмотрены возможности использования среды LabVIEW для связи с платформами National Instruments. Основной фокус будет направлен на демонстрацию новой версии LabVIEW, официальный релиз которой состоялся в 2017 году.

Электроника и радиотехника
Данная тема посвящена использованию технологий NI для проведения и автоматизации измерений в широком круге задач радиоэлектроники, включая мониторинг радиоэфира, разработку и тестирование ЭКБ, систем радиосвязи, радиолокации и РЭБ, исследование материалов, алгоритмов и систем.

Образовательная программа
Тема освещает применение технологий NI для образовательного процесса и научных исследований. Будут рассматриваться возможности и преимущества применения современных технологий, а также участие в различных мероприятиях и грантах.

Встраиваемые системы сбора данных и управления
Будут рассматриваться технологические и инфраструктурные возможности NI для развития бизнеса и производства, в том числе в контексте импортозамещения. Помимо этого будут освещены основные программные и аппаратные технологии компании для создания встраиваемых систем сбора данных, автоматизации и управления.

В рамках конференции NIDays 2017 пройдёт выставка с участием более чем 30 экспонентов, которые продемонстрируют свои проекты, разработки и услуги лучшим представителям инженерного сообщества, ученым и руководителям организаций разных сфер деятельности.

Для участия в конференции NIDays 2017 необходимо пройти регистрацию. Сделать это можно по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2020
КИПиС 2020 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
13.08.1819
День рождения