English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(466)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(537)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Технический семинар NI “Проектирование и разработка систем автоматизированных испытаний и КПА: от тестеров ЭКБ до имитации внешней среды радиоэлектронных систем”

Технический семинар NI “Проектирование и разработка систем автоматизированных испытаний и КПА: от тестеров ЭКБ до имитации внешней среды радиоэлектронных систем”

14.09.2017

Компания National Instruments приглашает Вас принять участие в техническом семинаре, посвященном применению технологий модульных приборов для построения автоматизированных систем тестирования, КПА и тестеров ЭКБ.

Дата и место проведения: 19 сентября 2017, Москва, гостиница "Рэдиссон Славянская", пл. Европы, д. 2.

Будут рассмотрены такие задачи, как создание стендов тестирования и КПА для блоков и систем различной направленности, входной и выходной контроль ЭКБ, интеллектуальное тестирование сложных систем с помощью полунатурного моделирования и программно-аппаратной имитации подсистем.

В ходе семинара специалисты National Instruments расскажут о лучших практиках построения систем параметрического и функционального тестирования радиоэлектроники, от тестеров ЭКБ до имитации внешней среды радиоэлектронных систем. Партнеры и заказчики поделятся своим опытом реализации сложных комплексных проектов с помощью технологий и продуктов National Instruments.

Участие в мероприятии бесплатное, по предварительной регистрации. Пройти регистрацию, а также ознакомиться с подробной программой мероприятия можно по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
14.08.1777
День рождения