English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(474)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Решения компании Keysight Technologies для тестирования устройств с высокоскоростным интерфейсом Type-C обеспечивают наиболее полную проверку физического уровня на соответствие требованиям стандартов

Решения компании Keysight Technologies для тестирования устройств с высокоскоростным интерфейсом Type-C обеспечивают наиболее полную проверку физического уровня на соответствие требованиям стандартов

31.01.2018

Компания Keysight Technologies объявила о выпуске контроллера N7018A Type-C, который позволяет выполнять автоматизированную проверку шин USB 3.1, TBT 3 и DisplayPort через интерфейс Type-C и является ключевым компонентом измерительных систем компании Keysight. Контроллер N7018A может подавать мощность до 100 Вт и переключать устройства в альтернативные режимы (DisplayPort и Thunderbolt).

N7018A обеспечивает полное управление тестируемым устройством, подключая линии SBU к стандартным контроллерам для тестирования альтернативных режимов и подавая низкочастотные периодические сигналы (LFPS) для управления устройствами USB3.1. Контроллер поддерживает быструю настройку и отладку, предлагая управление и доступ через линии CC, VBus и SBU интерфейса Type-C. Инженеры могут управлять контроллером через автономный графический интерфейс пользователя или через интерфейс для программирования приложений (API), встроенный в программное обеспечение Keysight для тестирования на соответствие стандартам.

Ниже перечислены новые версии ПО Keysight для тестирования на соответствие стандартам, работающие с интегрированным контроллером N7018A:

Тестирование передатчиков USB 3.1 U7243C
Тестирование передатчиков DisplayPort U7232E
Тестирование передатчиков TBT 3 N6470B
Управление приёмниками в ходе тестирования через интерфейс Type-C N5990A, опция 006
Подача мультистандартных последовательностей N5990A, опция 007
Передатчики BT3 (комбинированное решение с приёмником TBT для полного тестирования TBT 3) N5990A, опция 204

Кроме того, полное автоматическое решение включает недавно расширенный набор инструментов N5452A для дистанционного программирования приложений для тестирования на соответствие стандартам, который позволяет теперь после однократной настройки автоматически подавать испытательные последовательности через разные программные пакеты тестирования. Пользователи могут запускать наборы тестов на соответствие нескольким стандартам с помощью одной конфигурации и не вмешиваться в их исполнение.

“Мы в компании Keysight понимаем, что очень важно охватить весь процесс измерения характеристик и функциональной проверки, а не только тестирование на соответствие стандарту, – сказал Кайлаш Нараянан (Kailash Narayanan), вице-президент и генеральный менеджер подразделения беспроводного оборудования компании Keysight. – Новый контроллер для тестирования Type-C идеально подходит для решения этой задачи, поскольку он позволяет тестировать устройства Type-C в любом состоянии и для всех стандартов, поддерживаемых этими устройствами, что позволяет эффективно выполнять проверку на соответствие стандартам и тестирование в предельных режимах”.

www.keysight.com


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ