English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(426)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(510)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(244)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(57)
Новости Rohde & Schwarz(386)
Новости Tektronix(180)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(94)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания Agilent Technologies объявила о начале поставок платформы IC-CAP 2012, предназначенной для характеризации и моделирования электронных компонентов

04.06.2012

В новой версии САПР IC-CAP реализованы радикальные изменения в способах хранения, анализа и выбора данных для моделирования, что значительно повышает производительность рабочего процесса и обеспечивает целостность данных и масштабируемость результатов моделирования. Модуль WaferPro – решение для автоматизированных измерений - входит в состав САПР IC-CAP и имеет доступ к базе данных SQL, созданной в модуле IC-CAP Database.

Ещё один новый модуль, который интегрируется с IC-CAP Database, называется DataPro. С помощью этого модуля производится быстрый анализ и выбор данных для процесса экстракции параметров конечной модели.

Точное описание процесса изменения параметров технологического процесса при моделировании современных технологий изготовления полупроводниковых приборов стало главным требованием разработчиков. На ранних этапах процесса моделирования ПО IC-CAP WaferPro даёт возможность инженерам выполнить комплекс разнообразных измерений и собрать большой объём данных для статистического анализа. Запись этой информации непосредственно в базу данных упрощает ее хранение, повышает безопасность и удобство работы с ней, а также позволяет чрезвычайно быстро выполнять сложные поисковые запросы. ПО DataPro помогает определять и отбраковывать кристаллы с физическими дефектами или со значительными отклонениями характеристик от среднестатистических значений. Далее программа выполняет статистический анализ данных заданного типа и определяет типовой (эталонный) кристалл и кристалл с максимальными допустимыми отклонениями, чтобы использовать их параметры для экстракции модели.

«Мы лидируем в области разработки программного обеспечения для моделирования полупроводниковых приборов благодаря постоянному внедрению инноваций, повышающих производительность проектирования и точность наших моделей, – считает Крис Мортон (Chris Morton), бизнес-менеджер департамент моделирования Agilent EEsof EDA. – Уникальные возможности IC-CAP Database и DataPro позволили нашим заказчикам сфокусироваться на средствах моделирования и решении стоящих перед ними задач, не беспокоясь о правильном структурировании и безопасном хранении данных».

Быстрый анализ и выбор данных.

Новый модуль Agilent W8503 IC-CAP DataPro может напрямую обращаться к базе данных или библиотеке файлов. Удобный интерфейс позволяет пользователю выбирать информацию нужного типа для статистического анализа. Может выбираться, например, информация, представленная в виде графиков ВАХ (зависимости Id от Vd), а могут выбираться конкретные значения, например, Vth или Idmax. Модуль запускает статистический анализ выбранных данных и рассчитывает математические ожидания и дисперсии. Результаты могут быть представлены пользователю в графической форме, например в виде гистограмм, так чтобы пользователь мог просматривать и сами данные, и их распределение, и при этом производить отбраковку. Далее модуль определяет типовой образец кристалла, чтобы использовать его для экстракции модели типового изделия и кристалл с максимальными допустимыми отклонениями для моделирования предельных отклонений.

Новые возможности IC-CAP 2012.01

В дополнение к модулю DataPro и к поддержке базы данных SQL, у IC-CAP 2012.01 появились новые возможности и усовершенствования, например, сократился объем оперативной памяти, необходимой для работы программы (в 5 раз), что позволило загружать объемные файлы с данными, появился драйвер для параметрических анализаторов серии Agilent B2900A. Также были усовершенствованы уже имеющиеся драйверы для анализаторов источников питания постоянного тока, которые теперь поддерживают измерения во временной области и измерения с более высоким разрешением. Кроме того, для IC-CAP 2012.01 вводится новый упрощённый порядок лицензирования и изменяется структура продукта. Основные измерения включают введение новых модулей.
1. Пакет программ моделирования Modeling Suite заменён новым пакетом W8500.
2. В составе платформы появился новый программный продукт – W8520 Instrument Connectivity, в который входят все драйверы.
3. Во все пакеты экстракции для КМОП-структур включены пакеты для Target и Corner моделирования.
Дополнительная информация о новой структуре доступна на сайте www.agilent.com/find/eesof-iccap.


Платформа Agilent IC-CAP – это программное обеспечение для моделирования компонентов, предоставляющее разработчику мощные инструменты для описания и анализа параметров полупроводниковых приборов. Обеспечивая эффективную и точную экстракцию параметров моделей активных компонентов и схем, IC-CAP решает многочисленные задачи моделирования, включая управление контрольно-измерительными приборами, сбор данных, графический анализ, моделирование и оптимизацию. IC-CAP используется при разработке и производстве интегральных схем для расчёта параметров технологических процессов.



Экраны высокого разрешения для IC-CAP DataPro


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ