English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(486)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(563)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(464)
Новости Tektronix(194)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Компании Agilent Technologies, Трим и Orbit/FR проводят совместный семинар по антенным измерениям

Компании Agilent Technologies, Трим и Orbit/FR проводят совместный семинар по антенным измерениям

05.06.2008

Компании Agilent Technologies (Российское представительство), «НПП «ТРИМ СШП Измерительные системы», (Санкт-Петербург) и “ORBIT/FR Engineering” Ltd (Израиль) проводят уникальный семинар, посвященный антенным измерениям.
Семинар «Современные методы и средства измерений радиотехнических характеристик антенн» пройдет 17 июня 2008 года в Москве, в бизнес-центре «Кимберли-Лэнд».
На семинаре специалисты Трим, Orbit/FR и Agilent Technologies представят современные методы, аппаратные и программные средства измерений параметров антенн во временной и частотной областях, а также обсудят вопросы метрологического обеспечения антенных измерений. Кроме того, будет представлено контрольно-измерительное оборудование Agilent для антенных измерений.

О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 2 Апрель 2019
КИПиС 2019 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала