English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(474)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Cтенд технологий National Instruments в Политехническом музее

Cтенд технологий National Instruments в Политехническом музее

02.07.2012

В Политехническом музее, крупнейшем научно-техническом музее России, начал работу стенд, демонстрирующий передовые технологии компании National Instruments.

Специалистами компании National Instruments совместно с сотрудниками Политехнического музея были проведены работы по расширению экспозиции музея.

В рамках этой работы в павильоне, посвященном автоматике и кибернетике, представлен интерактивный модульный комплекс измерения температурного поля, в состав которого входит модульное оборудование National Instruments и графическая среда NI LabVIEW.


Стенд National Instruments в Политехническом музее

Посетители при помощи данного приложения могут измерить температурный фон ладони, который при помощи программных средств NI LabVIEW отображается в графическом, 2D и 3D виде на мониторе компьютера. Технологии NI для мощного сбора данных на примере данного стенда наглядно демонстрируют широкий спектр возможностей оборудования NI для разработки надежных многоканальных систем сбора данных.

Стенд NI позволяет будущим инженерам и разработчикам в живую ознакомиться с возможностями программно-аппаратной платформы NI и модульными системами для разработки контрольно-измерительных систем.


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ