English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Семинар «Технологии и решения National Instruments для разработки и испытаний современных высокотехнологичных изделий»

Семинар «Технологии и решения National Instruments для разработки и испытаний современных высокотехнологичных изделий»

19.02.2018

Компания National Instruments приглашает посетить семинар «Технологии и решения National Instruments для разработки и испытаний современных высокотехнологичных изделий».

Семинар пройдёт 27 февраля 2018 в Воронеже.

Адрес мероприятия: отель "Дегас", ул. Пятницкого 65А.

Семинар посвящен построению автоматизированных систем испытаний на основе программно-определяемых модульных приборов и графического программирования.

Будут рассмотрены задачи создания испытательных стендов для авиационной и ракетно-космической отрасли, КПА радиоэлектронных блоков и систем различной направленности. Большое внимание будет уделено современным подходам к макетированию и функциональному тестированию СВЧ систем в реальном времени, включая системы радиосвязи, радиолокации, радиоэлектронной борьбы и мониторинга эфира.

В ходе семинара специалисты National Instruments расскажут о ключевых аспектах и опыте построения систем стендовых испытаний узлов и агрегатов, параметрического и функционального тестирования радиоэлектроники, тестеров ЭКБ, имитаторов радиосистем и их окружения. Партнеры и заказчики поделятся своим опытом реализации сложных комплексных проектов.

Семинар будет полезен широкому кругу специалистов в области измерений, испытаний и автоматизации эксперимента.

Участие в мероприятии бесплатное, по предварительной регистрации.

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"