English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(486)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(563)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(463)
Новости Tektronix(194)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(130)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар "Технологии и решения National Instruments для разработки и тестирования современной электроники и радиотехники"

Семинар "Технологии и решения National Instruments для разработки и тестирования современной электроники и радиотехники"

28.02.2018

Компания National Instruments приглашает посетить семинар "Технологии и решения National Instruments для разработки и тестирования современной электроники и радиотехники", который пройдёт 6 марта 2018 в Минске, Беларусь.

Адрес мероприятия: отель "Юбилейный", пр. Победителей 19.

В нашем быстроменяющемся мире «умных» устройств сегодня как никогда важно разрабатывать и производить изделия радиоэлектроники быстрее и дешевле, при этом не жертвуя ни качеством, ни готовностью к изменениям. Данный семинар посвящен применению современных, «умных» технологий приборостроения для эффективного решения текущих задач разработки и тестирования радиоэлектронных изделий и систем.

Основные темы:

  • Платформа National Instruments для разработки и тестирования радиосредств и ЭКБ
  • Технологии программно-определяемого радио (SDR)
  • Системы записи и воспроизведения широкополосных радиосигналов и имитации радиообстановки
  • Многоканальные фазокогерентные измерительные СВЧ системы
  • Параметрическое тестирование ЭКБ и электронных блоков
  • Программно-аппаратные комплексы тестирования микросхем, электронных блоков и систем

Данный семинар будет полезен специалистам, занятым в разработке систем радиосвязи, радиолокации, радиомониторинга и РЭБ, измерительной техники и ЭКБ.

Участие в мероприятии бесплатное, по предварительной регистрации.

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 2 Апрель 2019
КИПиС 2019 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений