English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(532)
Новости Anritsu(114)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(611)
Новости Metrel(20)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(79)
Новости Rohde & Schwarz(517)
Новости Tektronix(206)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(103)
Новости Росстандарта(138)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Мобильные устройства для контроля и измерений

Мобильные устройства для контроля и измерений

06.08.2012

Мобильные устройства, включая смартфоны и планшеты, всё больше используются в контрольно-измерительной сфере. Их стремительно развивающиеся функциональные качества и особенности использования дополняют удобство визуализации и возможность подключения к беспроводным устройствам.

Создание удобных условий работы с данными для приложений LabVIEW на вашем планшете или мобильном устройстве.

Подключайтесь к всевозможным типам данных и выводите на дисплей устройства результаты измерений в одном, двух или сразу четырёх видах.

Получите показания измерений напряжения, используя устройство на базе iOS или Android, беспроводным способом посредством шасси NI cDAQ-9191при помощи измерительного модуля серии NI 9215 C. Для этого требуется перепрошивка, обеспечивающая должную работу с приложением.

Контактные выходы устройства NI DAQ легкодоступны для подключения. Вы можете изучить своё устройство, зарегистрировать его и получить доступ к странице сервисной поддержки, предоставляющей необходимые руководства, спецификации и документацию.

Используйте руководство LabVIEW Intro для начинающих по работе с системой LabVIEW.

Информация о других приложениях, а также ссылки для их скачивания доступны на сайте NI.

National Instruments


О компании:  NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 3 Июнь 2020
КИПиС 2020 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
09.08.1776
Родился итальянский ученый, физик и химик