English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(458)
Новости Anritsu(99)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(532)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(417)
Новости Tektronix(189)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(79)
Новости Росстандарта(109)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар по стендовым испытаниям от National Instruments

Семинар по стендовым испытаниям от National Instruments

08.03.2018

Семинар пройдёт в Москве, 22 марта 2018.

Адрес: гостиница "Рэдиссон Славянская", пл. Европы, д.2.

Семинар предназначен для инженеров и руководителей групп разработчиков, заинтересованных в применении современных технологий.

Постоянное усложнение продукции современной̆ промышленности выдвигает все более сложные требования к системам автоматизации измерений, от входного контроля компонентной̆ базы и параметрического тестирования отдельных блоков до сложного функционального тестирования комплексных систем в условиях, максимально приближенным к реальным. С другой̆ стороны, ставятся все более сжатые временные рамки, как для тестирования, так и для разработки систем тестирования.
Для решения этих задач сегодня необходимо использовать современные подходы, позволяющие не только создать систему, наилучшим образом решающую текущую задачу, но и готовую к обновлению и модификации по мере изменения продукции и требований.

В ходе семинара специалисты National Instruments расскажут о лучших практиках построения систем тестирования и новинках программных и аппаратных средств, а партнеры и заказчики поделятся своим опытом реализации сложных комплексных проектов с помощью технологий и продуктов National Instruments.

В программе семинара:

  • Актуальные задачи автоматизированных систем измерения, управления и моделирования
  • Встраиваемые системы мониторинга и управления
  • Автоматизированные системы управления стендовыми испытаниями
  • Технологии быстрого прототипирования и программно-аппаратного моделирования (HIL)

В рамках семинара пройдет выставка оборудования.

Зарегистрироваться можно по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 3 Июнь 2018
КИПиС 2018 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть