English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(547)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(85)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Семинар по стендовым испытаниям от National Instruments

Семинар по стендовым испытаниям от National Instruments

17.04.2018

Семинар пройдёт в Перми, 24 апреля 2018.

Адрес: Аптекарский двор, конференц-зал ул. Ленина, д.30а г. Пермь

Семинар предназначен для инженеров и руководителей групп разработчиков, заинтересованных в применении современных технологий.

Постоянное усложнение продукции современной̆ промышленности выдвигает все более сложные требования к системам автоматизации измерений, от входного контроля компонентной̆ базы и параметрического тестирования отдельных блоков до сложного функционального тестирования комплексных систем в условиях, максимально приближенным к реальным. С другой̆ стороны, ставятся все более сжатые временные рамки, как для тестирования, так и для разработки систем тестирования.
Для решения этих задач сегодня необходимо использовать современные подходы, позволяющие не только создать систему, наилучшим образом решающую текущую задачу, но и готовую к обновлению и модификации по мере изменения продукции и требований.

В ходе семинара специалисты National Instruments расскажут о лучших практиках построения систем тестирования и новинках программных и аппаратных средств, а партнеры и заказчики поделятся своим опытом реализации сложных комплексных проектов с помощью технологий и продуктов National Instruments.

В программе семинара:

  • Актуальные задачи автоматизированных систем измерения, управления и моделирования
  • Встраиваемые системы мониторинга и управления
  • Автоматизированные системы управления стендовыми испытаниями
  • Технологии быстрого прототипирования и программно-аппаратного моделирования (HIL)

В рамках семинара пройдет выставка оборудования.

Зарегистрироваться можно по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала