English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(482)
Новости Anritsu(106)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(556)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(260)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(450)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(127)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Ежегодная конференция NIWeek

Ежегодная конференция NIWeek

16.05.2018

С 21 по 24 мая в г. Остин (штат Техас, США) пройдет конференция NIWeek 2018, организованная компанией National Instruments.

NIWeek представляет собой отличную обучающую среду, в которой представлены средства и знания, необходимые Вам для повышения уровня профессионализма и повышения эффективности проводимых Вами тестирования, проектирования и разработок. NIWeek – это уникальное место для встреч инженеров, обмена информацией и идеями, для получения представлений об инновационных технологиях, и продуктах NI

Программа NIWeek включает в себя:

  • Технические саммиты
  • Секционные заседания
  • Более 200 технических сессий и 45 практических технических семинаров
  • Более 150 демонстрационных стендов
  • Ежедневные выступления руководителей NI и лидеров отрасли

Зарегистрироваться для посещения мероприятия можно по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 1 Февраль 2019
КИПиС 2019 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала